銀聯(lián)寶IC廠家AC-DC電源管理芯片集成度高，功能強(qiáng)大，它復(fù)雜的內(nèi)部結(jié)構(gòu)給她的性能、參數(shù)測(cè)試帶來(lái)了很大的難度，那些AC-DC芯片測(cè)試又有那些難點(diǎn)呢，下面跟著銀聯(lián)寶科技小編一起來(lái)看看：

   ，acdc電源管理芯片 的內(nèi)部結(jié)構(gòu)復(fù)雜，要對(duì)其經(jīng)行測(cè)試，需要對(duì)電路的工作原理、電路的結(jié)構(gòu)組成以及各組成部分之間的關(guān)系、測(cè)試參數(shù)的原理和相對(duì)應(yīng)的測(cè)試方法等多方面有深刻的理解和認(rèn)識(shí)。

，電源管理芯片AC-DC芯片內(nèi)部包含了許多相對(duì)獨(dú)立的部分，要實(shí)現(xiàn)對(duì)每個(gè)部分相關(guān)參數(shù)進(jìn)行測(cè)試，都需要設(shè)計(jì)專(zhuān)用的測(cè)試線路來(lái)囊括所有的測(cè)試項(xiàng)目，所以就需要測(cè)試系統(tǒng)有相應(yīng)的配套，例如測(cè)試時(shí)間參數(shù)的測(cè)量路線(TMU)、測(cè)試輸出特性的精密量單元（PMU）等，而且AC-DC芯片需的參數(shù)包含了不同類(lèi)型的物理量，如頻率量、時(shí)間量、電壓量、電流量等，另外還包含某些需要掃描測(cè)試的閥值量，因此再測(cè)試系統(tǒng)中具備針對(duì)于不同部分和不同物理量的專(zhuān)用測(cè)試路線。

第三，由于acdc開(kāi)關(guān)電源管理芯片內(nèi)部各組成模塊是相互的作用，所以某一項(xiàng)參數(shù)經(jīng)行測(cè)試時(shí)，需要考慮其他模塊對(duì)其的影響，這就是需要考慮整個(gè)器件的工作模式以及各個(gè)子模塊在工作模式下的相互關(guān)系。

第四，電源管理芯片由于AC-DC芯片的某些參數(shù)測(cè)試比較敏感，要求測(cè)試路線與被測(cè)電路之間的外圍不能距離太大，或者在測(cè)試的過(guò)程中，某些管腳的一些小狀態(tài)就會(huì)影響到該參數(shù)的測(cè)試準(zhǔn)確性，甚導(dǎo)致功能消失，所以在設(shè)計(jì)測(cè)試方案的時(shí)候就需要考慮一些控制為的外圍路線如何處理額問(wèn)題。

基于以上分析和其他的一些因素，目前國(guó)內(nèi)除銀聯(lián)寶科技IC廠家外并沒(méi)有能夠完成所有AC-DC電源管理芯片測(cè)試的一套理想測(cè)試系統(tǒng)，目前的設(shè)備基本上只能測(cè)試基本的直流參數(shù)、時(shí)間參數(shù)等，并不能很好的滿(mǎn)足AC-DC芯片生產(chǎn)和應(yīng)用的測(cè)試要求。

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